4156B 半导体参数分析仪

4156B 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。

附加的功能：

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60μs – 可变间隔，多 10,001 个点

易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能

设置测量和/或压力条件

控制测量和/或压力执行

执行算术计算

在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果

执行图形分析

存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出

使用内置的 HP Instrument BASIC 执行测量和分析

自检、自动校准

Agilent HP 4156B 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。